產品介紹 產品介紹 Burn-In System Burn-In Chamber 3 Burn-In Chamber 設計用途 電子元件可靠度測試 高溫老化測試 長時間壓力測試 溫度規格 精確溫度控制 最高溫度可達60°C 硬體配備 多組獨立測試槽位 即時監控系統 安全保護機制 資料記錄功能 主要優勢 同時處理大量元件 確保測試穩定性 提供資料可追溯性 電子產品品質驗證必備設備 1652005